裝配平板表面的質量該怎樣檢查
2016年10月26日
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裝配平板表面的質(zhi)量該怎樣(yang)檢查？
目前(qian)除了表面(mian)粗糙(cao)度有(you) 標準及相應的檢查方法(fa)外，表面(mian)質量的其余項目均無檢驗標準，也(ye)缺乏完善的無損(sun)檢查方法(fa)。通常(chang)都是(shi)憑經(jing)驗根據裝配平板的要求與加工方法(fa)確(que)定(ding)檢查的項目。一般裝配平板除了檢查表面粗糙度(du)外，其余項目(mu)都可(ke)以靠工藝保證，不再進行(xing)檢查。
對于重要的零件如機床導軌的表面，則根據需要決定檢查的項目。破壞性的檢查裝配平板/裝配平臺的方法只能用于抽驗或者驗證工藝的合理性。裝配平板表面質量的檢查項目和評定方法有以下幾項。
（1） 裝(zhuang)配平板粗糙度(du)：用輪廓檢(jian)(jian)查(cha)(cha)儀(yi)、雙(shuang)管顯微鏡(jing)或者干涉顯微鏡(jing)等測(ce)定裝(zhuang)配平板表面(mian)粗糙度(du)，按 標(biao)準進行評定。裝(zhuang)配平板表面(mian)的(de)劃痕、坑點等缺(que)陷依靠(kao)目測(ce)檢(jian)(jian)查(cha)(cha)，大量生產中已開始采(cai)用光(guang)電檢(jian)(jian)查(cha)(cha)儀(yi)器代替目測(ce)檢(jian)(jian)查(cha)(cha)儀(yi)器檢(jian)(jian)查(cha)(cha)裝(zhuang)配平板的(de)表面(mian)缺(que)陷。
（2） 裝配(pei)平板的裂紋等(deng)微觀缺(que)陷：可用以下(xia)方法和顯微鏡(jing)配(pei)合進行檢查，大(da)量生產(chan)中可用自動光(guang)學掃描儀代替目(mu)測檢驗。
1、 磁(ci)(ci)粉探傷法：將裝(zhuang)配平(ping)板(ban)(ban)磁(ci)(ci)化后，在裂(lie)紋缺陷處(chu) 會產生漏磁(ci)(ci)場，當澆上磁(ci)(ci)鐵(tie)(tie)粉懸浮液后，鐵(tie)(tie)粉即沿著(zhu)裝(zhuang)配平(ping)板(ban)(ban)缺陷所(suo)形成的的磁(ci)(ci)力分(fen)布，此檢(jian)查方法靈(ling)敏度(du)高(gao)，能 的顯示裝配平板表面的(de)細小裂紋和(he)表面下(xia)的(de)裂紋。
2、 熒(ying)(ying)光或者(zhe)著(zhu)色檢驗(yan)法(fa)：利用熒(ying)(ying)光劑或者(zhe)有色液體的shentou作用顯示出裝配平板的裂紋，主(zhu)要用于不用磁化的材料的探傷。
3、 酸性檢查：裂紋(wen)等缺陷等腐蝕后可提高清晰度。
（3） 裝配平板表面顯微硬度變化：用維式硬度計測定。若要測得裝配平板表面層的硬度分布，可將裝配平板加工出2~3度的斜面，即可將裝配平板表面層厚度h放大25倍左右。
（4） 裝配平板殘余(yu)內應力測(ce)定。
1、 酸(suan)腐蝕(shi)法：裝配平板(ban)又(you)較大的拉應力時，經酸(suan)性復(fu)試后(hou)即出現裂(lie)紋(wen)，可zaisheng產中(zhong)很方便地使用。
2、 逐層(ceng)去除法(fa)：可以測定裝配平板表面(mian)層(ceng)的應(ying)力分(fen)布(bu)。該方法(fa)是靠電介(jie)質腐(fu)蝕逐層(ceng)去除表面(mian)層(ceng)，因為內應(ying)力重(zhong)新(xin)平衡引起零件(jian)的變形，測其(qi)變形量即可計算出殘余內應(ying)力值。
3、 X射(she)線(xian)(xian)衍(yan)射(she)法：用X射(she)線(xian)(xian)可測(ce)(ce)得原子(zi)間距(ju)(ju)的變(bian)化。當(dang)(dang)裝(zhuang)配(pei)平板存在殘余內(nei)應(ying)力(li)(li)時，進出的原子(zi)間距(ju)(ju)發(fa)生變(bian)化。間距(ju)(ju)大于正常組織時為拉應(ying)力(li)(li)，反之(zhi)為壓應(ying)力(li)(li)。此法可 較的測(ce)(ce)定(ding)裝(zhuang)配(pei)平板表面(mian)(mian)殘余內(nei)應(ying)力(li)(li)。當(dang)(dang)需要測(ce)(ce)定(ding)鑄鐵平板表面(mian)(mian)應(ying)力(li)(li)分布時，應(ying)于逐(zhu)層去除后測(ce)(ce)定(ding)。由于此法效率甚低，難于在生產中直接使用，國(guo)外已發(fa)展了快(kuai)速X射(she)線(xian)(xian)衍(yan)射(she)儀，可以在幾(ji)分鐘之(zhi)內(nei)確定(ding)殘余內(nei)應(ying)力(li)(li)值。
正(zheng)創格言三不斗(dou)(dou)(dou)：不與(yu)君子(zi)斗(dou)(dou)(dou)名，不與(yu)小人斗(dou)(dou)(dou)利，不與(yu)天地斗(dou)(dou)(dou)巧。
三不(bu)(bu)(bu)爭：不(bu)(bu)(bu)與上級(ji)(ji)爭鋒(feng)，不(bu)(bu)(bu)與同(tong)級(ji)(ji)爭寵，不(bu)(bu)(bu)與下級(ji)(ji)爭功(gong)。
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人生三(san)愿：吃得下飯(fan)，睡得著覺(jue)，笑(xiao)得出來。
三(san)件事不能(neng)怕(pa)：年齡，孤 ，未來。
三件(jian)事不能悔：工作(zuo)，機遇(yu)，出身。
