鑄鐵平板的平面度該如何測量?泊鑄推薦方法如下
2017年03月24日
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用光學儀器測量鑄鐵平板平面度的測量方法,將平面掃描儀架在被測平臺上,目標I、目標II、目標III圍繞測微準直望遠鏡放置,且平行于支腳AC和BC的連線,把光學頭轉向目標I,并把望遠鏡調焦到目標I上,調整支腳B的調整螺釘,使望遠鏡十字線初步對準目標I上條紋。再轉向目標III調整掃描儀的測微鼓輪,使目標III接近望遠鏡十字線。光學頭轉向目標II,調整支腳A的調整螺釘,使望遠鏡十字線與目標II對中,經反復調整支腳高度和測微鼓輪,使望遠鏡十字線與三目標對中,建立了基準面,將目標IV放在要測量位置,用平面掃描儀的光學測微器讀出該位置對基準面的偏差。適合鑄鐵平板/鑄鐵平臺的平面度測量,通用性強、速度快、測量度高。
鑄鐵平板平面度(du)誤差的測量:
平面(mian)度誤差的(de)測量方法很多,常用(yong)的(de)有如下所列的(de)方法:
①光(guang)隙法:將被測(ce)(ce)直線和測(ce)(ce)量基線間形成的(de)光(guang)隙,與標準(zhun)光(guang)隙比較,測(ce)(ce)量不(bu)同方(fang)(fang)向的(de)若干(gan)個截面(mian)(mian)上的(de)直線度(du)誤(wu)差,取其中大值,作為平面(mian)(mian)度(du)誤(wu)差近(jin)似值的(de)方(fang)(fang)法。該(gai)方(fang)(fang)法適用(yong)于磨削或研磨加工(gong)的(de)小平面(mian)(mian)的(de)鑄(zhu)鐵平板平面(mian)(mian)度(du)誤(wu)差測(ce)(ce)量。
②指示器(qi)法:將被測零件支(zhi)撐(cheng)在測量(liang)平(ping)板上(shang),鑄(zhu)鐵(tie)平(ping)板工作面(mian)(mian)為測量(liang)基準,按一定(ding)的(de)方式布點,用指示器(qi)對被測面(mian)(mian)上(shang)各點進行測量(liang)并記錄(lu)所測數據,然(ran)后(hou),按一定(ding)的(de)方法評(ping)定(ding)其誤差值。該方法適(shi)用于中、小(xiao)平(ping)面(mian)(mian)的(de)鑄(zhu)鐵(tie)平(ping)板平(ping)面(mian)(mian)度(du)誤差測量(liang)。
③光軸法:以幾何光軸建(jian)立測量基面(mian),測出被測面(mian)相(xiang)對測量基面(mian)的偏(pian)離量,進而評定鑄鐵平(ping)(ping)板平(ping)(ping)面(mian)度(du)誤差值的方(fang)法,該方(fang)法適用于一般度(du)大(da)平(ping)(ping)面(mian)的鑄鐵平(ping)(ping)板平(ping)(ping)面(mian)度(du)誤差測量。
④干涉(she)法(fa)(fa):利用(yong)光波干涉(she)原理(li),根據(ju)干涉(she)條紋(wen)形狀、條數,來確定平面(mian)度誤(wu)差(cha)值的方(fang)法(fa)(fa),該(gai)方(fang)法(fa)(fa)適用(yong)于研表面(mian)的鑄鐵平板平面(mian)度誤(wu)差(cha)測量。
⑤三(san)坐標(biao)測(ce)(ce)量(liang)機(ji):三(san)坐標(biao)測(ce)(ce)量(liang)機(ji)是綜(zong)合利用(yong)jingmi機(ji)械(xie)、微電子、光柵和(he)激光干涉儀等技術的測(ce)(ce)量(liang)儀器,其原理是在(zai)三(san)個相互垂直的方向(xiang)上,有(you)導(dao)向(xiang)機(ji)構、測(ce)(ce)長(chang)元件、數(shu)顯(xian)裝置(zhi),有(you)一個能(neng)夠(gou)放置(zhi)工(gong)件的工(gong)作臺(tai),測(ce)(ce)頭可以以手(shou)動(dong)(dong)或(huo)機(ji)動(dong)(dong)方式(shi),輕快地移動(dong)(dong)到(dao)被測(ce)(ce)點上,由讀數(shu)設(she)備和(he)數(shu)顯(xian)裝置(zhi),把被測(ce)(ce)點的坐標(biao)值顯(xian)示出來的一種測(ce)(ce)量(liang)設(she)備。
除上面介紹的幾種(zhong)方法(fa)外,還有液面法(fa)、自準(zhun)直(zhi)儀(yi)法(fa)等,鑄鐵平(ping)(ping)(ping)板(ban)生(sheng)產廠家(jia)常采用光學合像水(shui)平(ping)(ping)(ping)儀(yi)測定測量平(ping)(ping)(ping)板(ban)的平(ping)(ping)(ping)面度誤差。
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