鑄鐵平板的平面度該如何測量？泊鑄推薦方法如下
2017年03月24日
新聞詳情
用光學儀器測量鑄鐵平板平面度的測量方法，將平面掃描儀架在被測平臺上，目標I、目標II、目標III圍繞測微準直望遠鏡放置，且平行于支腳AC和BC的連線，把光學頭轉向目標I，并把望遠鏡調焦到目標I上，調整支腳B的調整螺釘，使望遠鏡十字線初步對準目標I上條紋。再轉向目標III調整掃描儀的測微鼓輪，使目標III接近望遠鏡十字線。光學頭轉向目標II，調整支腳A的調整螺釘，使望遠鏡十字線與目標II對中，經反復調整支腳高度和測微鼓輪，使望遠鏡十字線與三目標對中，建立了基準面，將目標IV放在要測量位置，用平面掃描儀的光學測微器讀出該位置對基準面的偏差。適合鑄鐵平板/鑄鐵平臺的平面度測量，通用性強、速度快、測量度高。
鑄鐵平板平面(mian)度誤(wu)差的測量：
平面度誤差(cha)的測量方法很多，常(chang)用(yong)的有如下所(suo)列(lie)的方法：
①光(guang)隙法(fa)：將被測直(zhi)線(xian)和測量(liang)基線(xian)間形成的(de)(de)(de)光(guang)隙，與標準光(guang)隙比較，測量(liang)不同方(fang)向的(de)(de)(de)若干個截面(mian)上的(de)(de)(de)直(zhi)線(xian)度誤(wu)(wu)差(cha)，取(qu)其中大值，作為(wei)平(ping)面(mian)度誤(wu)(wu)差(cha)近(jin)似值的(de)(de)(de)方(fang)法(fa)。該方(fang)法(fa)適用于(yu)磨(mo)削或(huo)研磨(mo)加工的(de)(de)(de)小平(ping)面(mian)的(de)(de)(de)鑄(zhu)鐵平(ping)板平(ping)面(mian)度誤(wu)(wu)差(cha)測量(liang)。
②指示器法：將(jiang)被測(ce)(ce)零件支撐在測(ce)(ce)量平板上，鑄鐵(tie)平板工作面為(wei)測(ce)(ce)量基(ji)準，按(an)一定(ding)的(de)(de)方式布點，用(yong)指示器對(dui)被測(ce)(ce)面上各點進行測(ce)(ce)量并記(ji)錄所(suo)測(ce)(ce)數據，然后(hou)，按(an)一定(ding)的(de)(de)方法評定(ding)其誤(wu)差值。該方法適用(yong)于中、小平面的(de)(de)鑄鐵(tie)平板平面度誤(wu)差測(ce)(ce)量。
③光軸(zhou)法：以(yi)幾何光軸(zhou)建立測(ce)量(liang)基(ji)(ji)面(mian)(mian)，測(ce)出被測(ce)面(mian)(mian)相(xiang)對(dui)測(ce)量(liang)基(ji)(ji)面(mian)(mian)的(de)偏離量(liang)，進(jin)而評定鑄(zhu)鐵平(ping)(ping)(ping)板(ban)平(ping)(ping)(ping)面(mian)(mian)度誤(wu)差(cha)值的(de)方(fang)法，該方(fang)法適用于(yu)一般度大平(ping)(ping)(ping)面(mian)(mian)的(de)鑄(zhu)鐵平(ping)(ping)(ping)板(ban)平(ping)(ping)(ping)面(mian)(mian)度誤(wu)差(cha)測(ce)量(liang)。
④干(gan)涉法(fa)：利用(yong)光波干(gan)涉原理，根據干(gan)涉條(tiao)紋(wen)形狀、條(tiao)數(shu)，來確定平(ping)面(mian)度(du)(du)誤差值的方(fang)法(fa)，該方(fang)法(fa)適用(yong)于研表面(mian)的鑄鐵平(ping)板平(ping)面(mian)度(du)(du)誤差測量。
⑤三坐(zuo)標測(ce)量(liang)機(ji)(ji)：三坐(zuo)標測(ce)量(liang)機(ji)(ji)是綜(zong)合(he)利用jingmi機(ji)(ji)械(xie)、微電(dian)子、光柵(zha)和(he)激光干涉儀等技(ji)術(shu)的(de)(de)測(ce)量(liang)儀器，其(qi)原理是在三個相互垂直(zhi)的(de)(de)方(fang)向上，有導向機(ji)(ji)構、測(ce)長元件、數顯裝(zhuang)置，有一個能夠放置工(gong)件的(de)(de)工(gong)作(zuo)臺，測(ce)頭(tou)可以以手動或機(ji)(ji)動方(fang)式，輕快(kuai)地移動到被(bei)測(ce)點上，由讀數設備(bei)和(he)數顯裝(zhuang)置，把(ba)被(bei)測(ce)點的(de)(de)坐(zuo)標值顯示出來的(de)(de)一種測(ce)量(liang)設備(bei)。
除上面介紹(shao)的幾種(zhong)方(fang)法外，還有液(ye)面法、自準(zhun)直儀法等，鑄鐵平板生產廠家常采用(yong)光學(xue)合(he)像(xiang)水平儀測定(ding)測量(liang)平板的平面度誤差。
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